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O-INSPECT 543
蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较,提供四倍更大视场,即便于镜头周边区域亦可确保极佳图像质量。优点:减少测量时间并具有稳定的精度。
O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点,取得有关形状和位置的信息,是此类测量机中的佼佼者。别的多探头测量机仅允许单点测量,而且探针测力相当大;蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量,所以针对薄壁的工件也能实现真正的3D测量。
O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能,使O-INSPECT全面开启了测量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查看实际状态、理论状态及偏差,更快捷诠释测量结果。